77.01    В29     Вендровский, К. В.     Фотографическая структурометрия / К.В. Вендровский, А.И. Вейцман. - М. : Искусство, 1982. - 270 с. : ил. - Б. ц. УДК 77.01^V3 Доп.точки доступа: Вейцман, А.И. Экземпляры всего: 1 ЧЗ (1) Свободны: ЧЗ (1)